GB/T2423.22-2012

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GB/T2423.22-2012是關(guān)于《環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗N：溫度變化 》。GB/T2423的本部分規(guī)定的試驗用來確定元器件、設(shè)備或其他產(chǎn)品耐受環(huán)境溫度快速變化的能力。實現(xiàn)這一目的所需的各溫度下的暴露持續(xù)時間取決于試驗樣品的特性。

GB/T2423.22-2012是GB/T2423標準的第22部分,GB/T2423標準的組成部分見資料性附錄NA。

本部分按照GB/T1.1—2009給出的規(guī)則起草。

本部分代替GB/T2423.22—2002《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗N:溫度

變化》和GB/T2424.13—2002《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 溫度變化試驗導則》。

本部分以GB/T2423.22—2002為主,整合了GB/T2424.13—2002的部分內(nèi)容,與GB/T2423.22—2002和GB/T2424.13—2002相比,主要技術(shù)變化和編輯性修改如下:

———試驗Na和試驗Nb中,刪除了對試驗箱的優(yōu)良濕度、箱壁溫度和空氣流速的有關(guān)要求(見7.2.1、8.2.1);

———試驗Na中,增加了允許采用一臺快速溫度變化速率的試驗箱進行試驗的規(guī)定(見7.2.1);

———試驗Na和試驗Nb的嚴酷等級,增加了“暴露持續(xù)時間”這一參數(shù)(見7.2.3、8.2.3);

———試驗Na中,刪除了“轉(zhuǎn)換時間應(yīng)為:(2~3)min、(20~30)s、<10s”的規(guī)定,代之以“轉(zhuǎn)換時間t2不宜超過3min”(見7.2.5);

———試驗Nb中,增加了溫度變化速率的兩個優(yōu)選值:(10±2)K/min和(15±3)K/min(見8.2.3);

———試驗Nc中,刪除了兩組標準化的持續(xù)時間參數(shù);

———溫度偏差的單位用“K”取代“℃”;

———刪除了GB/T2424.13—2002的3.4.2和第4章的內(nèi)容;

———更新了GB/T2424.13—2002的3.3的內(nèi)容;

———更新了所有的示圖;

———將試驗Na、試驗Nb、試驗Nc中共同的內(nèi)容“初始和后檢測”編為單獨的第6章;

———增加了第10章“試驗報告中應(yīng)給出的信息”;

———描述試驗Na、試驗Nb、試驗Nc的各章結(jié)構(gòu)上作了調(diào)整(見第7章、第8章、第9章)。

本部分使用翻譯法等同采用IEC60068-2-14:2009《環(huán)境試驗 第2-14部分:試驗方法 試驗N:溫度變化》。

與本部分中規(guī)范性引用的文件有一致性對應(yīng)關(guān)系的我國文件如下:

GB/T2423.1 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A:低溫(GB/T2423.1—2008,IEC60068-2-1:2007,IDT)

GB/T2423.2 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫(GB/T2423.2—2008,IEC60068-2-2:2007,IDT)